lewy róg Logo Instytutu Fizyki UMCS niemożliwe możliwym! Logo Instytutu Fizyki UMCS prawy róg

Strona główna » Instytut » Pracownicy » Tomasz Pieńkos

dr Tomasz Pieńkos

Zakład

Zakład Spektrometrii Mas

Stanowisko:

adiunkt

Kontakt:

pokój: 26
telefon: (081) 537-62-21
e-mail: tomasz.pienkos@umcs.pl

Specjalność naukowa:

fizyka

Publikacje: Pokaż abstrakty

  1. T. Pieńkos,S. Hałas,M. Czarnacki, High temperature resistivity determination of high-melting point metals and alloys, Vacuum, 85(), 2010, 498-501

  2. Pieńkos, T. Czarnacki, M. Hałas, S., Wyznaczenie termoelektrycznej pracy wyjścia hafnu, Janów Lubelski, IV Kongres Polskiego Towarzystwa Próżniowego, VIII Krajowa Konferencja Techniki Próżni, (), 2008, P-21

  3. Hałas, S. Pieńkos, T. Czarnacki, M. Durakiewicz, T., Determination of work function of metals and alloys using diode with spiral anode, Vacuum, 82(), 2008, 1094-1098

  4. Hałas, S. Pieńkos, T., O pomiarach pracy wyjścia stopów metali trudnotopliwych, Janów Lubelski, IV Kongres Polskiego Towarzystwa Próżniowego, VIII Krajowa Konferencja Techniki Próżni, (), 2008, 0-13

  5. Gladyszewski, G. Chocyk, D. Proszynski, A. Pienkos, T., Stress evolution during intermittent deposition of metallic thin films, Microelectronic Engineering, 83(11-12), 2006, 2351-2354

  6. Chocyk, D. Proszynski, A. Gladyszewski, G. Pienkos, T. Gladyszewski, L., Post-deposition stress evolution in Cu and Ag thin films, Optica Applicata, 35(3), 2005, 419-424

  7. Pienkos, T. Gladyszewski, L. Proszynski, A. Chocyk, D. Gladyszewski, G., Determination of surface waviness using radius of curvature measurement with laser scanning technique, Optica Applicata, 35(3), 2005, 503-507

  8. Proszynski, A. Chocyk, D. Gladyszewski, G. Pienkos, T. Gladyszewski, L., Measurement of stress as a function of temperature in Ag and Cu thin films, Optica Applicata, 35(3), 2005, 517-522

  9. Chocyk, D. Zientarski, T. Proszynski, A. Pienkos, T. Gladyszewski, L. Gladyszewski, G., Evolution of stress and structure in Cu thin films, Crystal Research and Technology, 40(4-5), 2005, 509-516

  10. Gladyszewski, L. Gladyszewski, G. Pienkos, T., Surface ionization of the lanthanides, Vacuum, 74(2), 2004, 301-304

  11. Pienkos, T. Proszynski, A. Chocyk, D. Gladyszewski, L. Gladyszewski, G., Stress development during evaporation of Cu and Ag on silicon, Microelectronic Engineering, 70(2-4), 2003, 442-446

  12. Pienkos, T. Gladyszewski, L. Proszynski, A. Chocyk, D. Gladyszewski, G. Martin, F. Jaouen, C. Drouet, M. Lamongie, B., Stress development during thin film growth and its modification under ion irradiation, Vacuum, 70(2-3), 2003, 243-248

  13. Pienkos, T. Gladyszewski, L. Chocyk, D. Proszynski, A. Gladyszewski, G. Martin, F. Jaouen, C., Measurements of stress during ion irradiation, Optica Applicata, 32(3), 2002, 421-424

  14. Pienkos, T. Gladyszewski, L. Chocyk, D. Gladyszewski, G., Stress relaxation effects in Ag/Pd superlattices at initial stages of ion beam mixing, Materials Science and Engineering a-Structural Materials Properties Microstructure and Processing, 288(2), 2000, 266-269


[ powrót do pełnej listy pracowników ]